高溫老化房主要技術(shù)指標(biāo)

    高溫老化房，是針對高性能電子產(chǎn)品（如：機算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域 

主要技術(shù)指標(biāo):
溫度范圍：常溫+5℃~60℃（常溫+5℃~80℃）
溫度波動：±0.5℃；
溫度偏差：±3℃（可按照每個客戶要求設(shè)計精度）
房內(nèi)尺寸：按要求；
運行方式：溫度可調(diào)，恒定運行或程序運行（可選觸摸屏式程序運行）
安裝電源：AC~380V；50 Hz；
噪音大小：≦75分貝